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福禄克热像仪在电子研发中的应用

当前,电子设备主要失效形式就是热失效。据统计,电子设备失效有55%是温度超过规定值引起,随着温度增加,电子设备失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感,器件温度在70-80℃水平上每增加1℃,可靠性就会下降5%。

热像仪能够有效检测电路板上每个元器件的温度,这是其他测温工具所做不到的;把空调器控制板上每个元器件的温度控制在限度范围内,将可以大大提高运行稳定性和产品寿命。

在能源紧张的今天,节能省电是电器产品的主流课题,在电路研发过程中,进行负载分析是必须的;热像仪提供了通过温度检测进行负载分析的手段,通过热图您可以很直观的辨识出高功耗部位,为工程师完善电路,提高转换效率、减少功耗、减少电路内部温升提供强有力依据。
LED 的实际寿命与工作温度往往成反比,如LED 使用寿命在工作温度为74℃为10000 小时,63℃为25000 小时,小于50℃时,则可为50000 小时。根本原因是LED 的光电转换率极差,大约只有15%至20%,其余转换为热能,因此对LED 灯芯温度的控制非常重要。但LED 灯的芯片较小,用热电偶布点检测其表面温度很不方便,利用红外热像仪则可以非常便捷的检测到其表面温度。

LED芯片检测 

Fluke热像仪具有高像素FPA传感器、红外-可见光融合、高热灵敏度(≤0.05℃)、任意增配长焦或广角镜头、人性化设计、三按钮菜单、单手使用、可进行直观的操作和浏览、发射率校正、透射率校正、高温报警和现场可更换电池等特点,使热像仪能够胜任各种复杂的工作环境。 
福禄克凭借强大的销售及技术服务网络帮助客户共同迎接在工作中遇到的各种挑战,为测试和维护工作排忧解难,使客户获得在当今激烈竞争的市场环境中所必需的、具有价值的测试测量解决方案。 

  发布编辑:jack

时间:2018-07-25